超聲波探傷ABCD掃描顯示特點(diǎn)-飛泰檢測(cè)儀器

超聲波探傷檢測(cè)有多種掃描方式，不同的掃描方式可以得到不同的顯示畫(huà)面，我們可以根據(jù)自己想要的畫(huà)面選擇不同的探傷方式。

A 超探傷儀有模擬式和數(shù)字式兩種。模擬式儀器由單行掃描線經(jīng)幅度調(diào)節(jié)顯示波形，而數(shù)字式儀器的顯示是二維點(diǎn)陣式的，它是通過(guò) A/D 轉(zhuǎn)換器和微處理器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字信號(hào)顯示波形。現(xiàn)在大多使用的是數(shù)字式探傷儀。

B 型顯示超聲波探傷(B超)因其成像方式采用輝度調(diào)制(Brightnessmodulation)而得名，其圖像顯示的是工件內(nèi)部情況的斷層圖(或稱(chēng)剖面圖)。B 型超聲波探傷將深度方向所有界面反射回波用輝度調(diào)制方式顯示出來(lái)，它有兩種掃描方式。一種方式是沿一個(gè)方向快速等間隔改變工件檢測(cè)面上 A 超探頭的位置，得到一系列 A 超反射回波，完成一行掃描后，便可得到一幅線掃斷層圖像。另一種方式是通過(guò)機(jī)械方法或電子方法快速改變探頭的入射角度，掃描方式呈扇形擺動(dòng)，得到一系列 A 超反射回波，完成一定角度掃描后，便可得到一幅扇掃斷層圖像。

C 型顯示超聲波探傷(C 超、C 掃描)能得到類(lèi)似 X 射線拍片的圖像。國(guó)外在 20 世紀(jì) 70 年代出現(xiàn)了超聲波 C 掃描檢測(cè)系統(tǒng)。國(guó)內(nèi)據(jù)報(bào)道在 1984 年出現(xiàn)了數(shù)控超聲掃描 C 顯示裝置。國(guó)外的優(yōu)勢(shì)在于開(kāi)發(fā)研究大型超聲波 C 掃描系統(tǒng)，其強(qiáng)大的軟硬件能夠使系統(tǒng)具有曲面跟蹤檢測(cè)、三維顯示等功能。國(guó)內(nèi)超聲波 C 掃描系統(tǒng)多為中小型，具有較強(qiáng)的針對(duì)性。

C 掃描檢測(cè)結(jié)果直觀可靠且便于保存，儀器自動(dòng)化程度高，為缺陷的定量、定性、定位的判定提供了有利依據(jù)。C 掃描中使用高頻率探頭，發(fā)出的超聲波波長(zhǎng)短、指向性好、分辨率高，能檢測(cè)到工件中的微小缺陷。C 掃描圖像可顯示缺陷形貌，可進(jìn)行超聲層析成像和分析，掌握缺陷具體形貌和尺寸。另外可結(jié)合 A 超探傷對(duì)缺陷進(jìn)行綜合分析評(píng)定。

D 型顯示超聲波探傷(D 超)的掃描結(jié)果是工件側(cè)視圖，而 B 超則是正視圖。D 超也是通過(guò)掃描獲得不同位置、不同深度的波形數(shù)據(jù)而得到的一幅二維超聲斷層圖像。