超聲波探傷成象技術(shù)說明-飛泰

超聲波探傷通常以A型、B型、C型三種方法顯示。近年來，隨著電子技術(shù)，特別是微型電子計算機的發(fā)展，幾種新型顯示方法相繼研究成功。

目前工業(yè)超聲波探傷，廣泛采用A型顯示法。此方法使用簡便，應用范圍廣，并能對缺陷定位。缺陷的尺寸則是以當量平底孔的大小來評定的。缺點是難以判斷缺陷的性質(zhì)、形狀和分布。因此，最好能結(jié)合B型、C型顯示法以助判斷。

當用發(fā)射一接收型單探頭探傷時，探頭受電脈沖激勵發(fā)出超聲波，回波信號經(jīng)過高頻放大、檢波、視頻放大后輸向示波管。設(shè)探頭處于試樣上方在C點入射，則一部份超聲波從上表面反射回來，稱為界面波;穿透的超聲波在缺陷處反射回來，稱為缺陷波;其余部份從底面反射回來，稱為底波。當然也有部份超聲波穿過試樣。常用的三個反射信號表示在右邊的熒光屏上，根據(jù)缺陷波在界面波和底波之間的相對位置，可以計算缺陷F在試樣中的位置。由缺陷回波的高低可以評定它的大小，這就是A型顯示:如果探頭沿AB作直線掃描，則可將超聲波傳播時間和回波位置之間的關(guān)系顯示在左邊的存儲示波器熒光屏上，它相當于試樣在AB位置的截面圖，表示缺陷F距上下表面的位置分布，這就是B型顯示，把探頭的這種動作方式稱為B掃描。當探頭在試樣上方沿XY坐標逐點掃描，調(diào)節(jié)門電路，只選取上下表面之間的反射信號顯示在下邊的存儲示波器熒光屏上，它表示在試樣內(nèi)部，所調(diào)節(jié)的門限范圍內(nèi)的缺陷在XY平面上的投影，這就是C顯示，把探頭的這種動作方式稱為C掃描。

對于不需要知道缺陷深度分布的試樣，C型顯示可以直接表示缺陷的平面形狀。所以可具有較好的使用價值;如航空工業(yè)中的鍛件、盤、蜂窩結(jié)構(gòu)、膠合件及復合材料等，均可采用此種顯示方式進行檢查。